भाग संख्या :
SN74BCT8240ANTG4
निर्माता :
Texas Instruments
वर्णन :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
तर्क प्रकार :
Scan Test Device with Inverting Buffers
आपूर्ति भोल्टेज :
4.5V ~ 5.5V
अपरेटिंग तापमान :
0°C ~ 70°C
माउन्टिंग प्रकार :
Through Hole
प्याकेज / केस :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
आपूर्तिकर्ता उपकरण प्याकेज :
24-PDIP