भाग संख्या :
SN74BCT8374ADWRE4
निर्माता :
Texas Instruments
वर्णन :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
तर्क प्रकार :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
आपूर्ति भोल्टेज :
4.5V ~ 5.5V
अपरेटिंग तापमान :
0°C ~ 70°C
माउन्टिंग प्रकार :
Surface Mount
प्याकेज / केस :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
आपूर्तिकर्ता उपकरण प्याकेज :
24-SOIC